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파장분산형 엑스선 분광기에 의한 전자탐침미세분석시 xe 표준물질에 관한 연구 = (A)study on the standards for xe analysis by wavelength dispersive x - ray spectrometer (wds) of electron probe micro analysis (epma)
표제/저자사항 파장분산형 엑스선 분광기에 의한 전자탐침미세분석시 xe 표준물질에 관한 연구 = (A)study on the standards for xe analysis by wavelength dispersive x - ray spectrometer (wds) of electron probe micro analysis (epma) / 박순달, 하영경, 김종구, 지광용, 김원호
형태사항 p. 565-572: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 분석과학. 한국분석과학회. 13권 5호(2000년 10월), p. 565-572 13:5<565 상세보기
저자: 박순달, 한국원자력연구소
저자: 하영경, 한국원자력연구소
저자: 김종구, 한국원자력연구소
저자: 지광용, 한국원자력연구소
저자: 김원호, 한국원자력연구소
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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