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반도체 메모리의 테스트를 위한 MTA(Memory TestAble code)코드 = MTA(Memory TestAble) Code for Testing in Semiconductor Memories
표제/저자사항
반도체 메모리의 테스트를 위한 MTA(Memory TestAble code)코드 = MTA(Memory TestAble) Code for Testing in Semiconductor Memories / 李仲鎬, 趙相福
형태사항
p. 111-121: 삽도; 26 cm
주기사항
수록자료: 電子工學會論文誌. A. 大韓電子工學會. 31卷 8號(1994년 8월), p. 111-121 31:8<111 상세보기 ISSN 1016-135X
저자: 이중호, 울산대학교 전자공학과
저자: 조상복, 울산대학교 전자공학과
저자: 이중호, 울산대학교 전자공학과
저자: 조상복, 울산대학교 전자공학과
출처
국립중앙도서관 바로가기
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001KMO201509136
00520150303111639
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
