기사
ESCA를 이용한 웨이퍼의 세정도 측정 = Measurement of cleanliness of wafer by ESCA
표제/저자사항 ESCA를 이용한 웨이퍼의 세정도 측정 = Measurement of cleanliness of wafer by ESCA / 이광진, 정용안, 노경호
형태사항 p. 715-720: 삽도; 29 cm
주기사항 수록자료: 화학공학. 한국화학공학회. 39권 6호(2001년 12월), p. 715-720 39:6<715 상세보기 ISSN 0304-128X
저자: 이광진, 인하대학교 화학공학과
저자: 정용안, 한국기기유화시험연구원 연구개발팀
저자: 노경호, 인하대학교 화학공학과 E-MAIL: rowkho@inha.ac.kr
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로