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고주파수 초음파 검출장에서 SiC 세라믹 내부의 미세결함 검출 = Detection of small flaws in SiC structural ceramic in high frequency detection field
표제/저자사항 고주파수 초음파 검출장에서 SiC 세라믹 내부의 미세결함 검출 = Detection of small flaws in SiC structural ceramic in high frequency detection field / 김병극, 이승석
형태사항 p. 100-107; 26 cm
주기사항 수록자료: 비파괴검사학회지. 韓國非破壞檢査學會. 제17권 2호(1997년 5월), p. 100-107 17:2<100 상세보기 ISSN 1225-7842
저자: 김병극, 한국표준과학연구원 방재기술연구센터 비파괴평가그룹
저자: 이승석, 한국표준과학연구원 방재기술연구센터 비파괴평가그룹
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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