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소형 물체의 검사를 위한 고해상도 미세 초점 X선 단층 촬영 시스템 = High resolution computerized tomography system using the microfocus x-ray for inspection of small specimens
표제/저자사항 소형 물체의 검사를 위한 고해상도 미세 초점 X선 단층 촬영 시스템 = High resolution computerized tomography system using the microfocus x-ray for inspection of small specimens / 김영주, 구자용, 이승석, 김환우
형태사항 p. 181-190; 26 cm
주기사항 수록자료: 비파괴검사학회지. 韓國非破壞檢査學會. 제18권 3호(1998년 6월), p. 181-190 18:3<181 상세보기 ISSN 1225-7842
저자: 김영주, 한국표준과학연구원
저자: 구자용, 한국표준과학연구원
저자: 이승석, 한국표준과학연구원
저자: 김환우, 충남대학교 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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