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Device wafer의 종점 전후에 있어서 광역평탄화 특성에 관한 연구 = (A)study on the global planarization characteristics in end point stage for device wafers
표제/저자사항 Device wafer의 종점 전후에 있어서 광역평탄화 특성에 관한 연구 = (A)study on the global planarization characteristics in end point stage for device wafers / 정해도, 김호윤
형태사항 p. 117-123; 26 cm
주기사항 수록자료: 生産技術硏究所 論文集. 釜山大學校 生産技術硏究所. 제51집(1996년 12월), p. 117-123 51<117 상세보기 ISSN 1225-8849
저자: 정해도, 부산대학교 공과대학 기계공학과 전임강사
저자: 김호윤, 부산대학교 일반대학원 기계공학과 석사과정
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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