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경로 지연 고장 테스팅을 위한 부분 확장 주사 방법 = (A)partial enhanced scan method for path delay fault testing
표제/저자사항 경로 지연 고장 테스팅을 위한 부분 확장 주사 방법 = (A)partial enhanced scan method for path delay fault testing / 김원기, 김명균, 강성호, 한건희
형태사항 p. 3226-3235; 26 cm
주기사항 수록자료: 정보처리논문지. 한국정보처리학회. 제7권 10호(2000년 10월), p. 3226-3235 7:10<3226 상세보기 ISSN 1226-9190
저자: 김원기, 정회원 : 삼성전기
저자: 김명균, 준회원 : 연세대학교 대학원 전기전자공학과
저자: 강성호, 정회원 : 연세대학교 전기전자공학과 교수
저자: 한건희, 정회원 : 연세대학교 전기전자공학과 교수
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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