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AFM에서의 미세 힘 측정의 원리 및 응용 = Measurement of weak forces in atomic force microscopy
표제/저자사항 AFM에서의 미세 힘 측정의 원리 및 응용 = Measurement of weak forces in atomic force microscopy / 구자용, 김달현
형태사항 p. 13-18; 26 cm
주기사항 수록자료: 한국정밀공학회지. 한국정밀공학회. 19卷 3號(2002년 3월), p. 13-18 19:3<13 상세보기 ISSN 1225-9071
저자: 구자용, 한국표준과학연구원 과학기술부 창의적 연구진흥사업 이종성장제어연구단 E-MAIL: koojayon@kriss.re.kr
저자: 김달현, 한국표준과학연구원
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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