학위논문
Self-testing VLSI circuits
표제/저자사항 Self-testing VLSI circuits / by Young-Gap You
발행사항 Ann Arbor: Univ. of Michigan, 1986
형태사항 ix, 187 leaves; 29 cm
주기사항 Thesis(Ph.D.) -- Univ. Michiganl, 1986
분류기호 듀이십진분류법-> 621.38173
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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