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고분자 표면분석을 위한 비행시간형 이차이온 질량분석(TOF-SIMS) 기술 = Time-of-flight secondary Ion mass spectrometry(TOF-SIMS) for polymer surface analysis
표제/저자사항
고분자 표면분석을 위한 비행시간형 이차이온 질량분석(TOF-SIMS) 기술 = Time-of-flight secondary Ion mass spectrometry(TOF-SIMS) for polymer surface analysis / 이연희
형태사항
p. 798-805: 삽도; 26 cm
주기사항
수록자료: 고분자 과학과 기술. 韓國高分子學會. 11권 6호(2000년 12월), p. 798-805 11:6<798 상세보기 ISSN 1225-0260
저자: 이연희, 한국과학기술연구원 특성분석센터
저자: 이연희, 한국과학기술연구원 특성분석센터
출처
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001KMO201509136
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
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9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
