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MeV 이온빔 분석 기술 = MeV ion beam analysis technique
표제/저자사항 MeV 이온빔 분석 기술 = MeV ion beam analysis technique / 김태곤, 송종한
형태사항 p. 88-95: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 고분자 과학과 기술. 韓國高分子學會. 14권 1호(2003년 2월), p. 88-95 14:1<88 상세보기 ISSN 1225-0260
저자: 김태곤, 한국과학기술연구원 특성분석센터
저자: 송종한, 한국과학기술연구원 특성분석센터
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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