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비정질 As₂S₃박막의 굴절계수 및 박막의 두께측정 = Measurement of refractive index and thickness for amorphous AS₂S₃ thin film
표제/저자사항 비정질 As₂S₃박막의 굴절계수 및 박막의 두께측정 = Measurement of refractive index and thickness for amorphous AS₂S₃ thin film / 김성규, 이영락, 곽종훈최옥식, 이윤우
형태사항 p. 157-165: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 基礎科學硏究-嶺南大學校 基礎科學硏究所. 嶺南大學校 基礎科學硏究所. 16卷(1996년), p. 157-165 16<157 상세보기
저자: 김성규, 영남대학교 이과대학 물리학과
저자: 이영락, 영남대학교 이과대학 물리학과
저자: 곽종훈, 영남대학교 이과대학 물리학과
저자: 최옥식, 영남대학교 이과대학 물리학과
저자: 이윤우, 한국표준과학연구원 영상그룹
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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