기사
간섭방법을 이용한 비정질 A$$s_{40}$$< / TEX>G$$e_{10}$$< / TEX>$$S_{35}$$< / TEX>S$$e_{15}$$< / TEX> 박막에서의 광유기 이방성 크기 측정 = Estimation of the anisotropy magnitude in amorphous A$$s_{40}$$< / TEX>G$$e_{10}$$< / TEX>$$S_{35}$$< / TEX>S$$e_{15}$$< / TEX> thin films by an interference method
표제/저자사항 간섭방법을 이용한 비정질 A$$s_{40}$$< / TEX>G$$e_{10}$$< / TEX>$$S_{35}$$< / TEX>S$$e_{15}$$< / TEX> 박막에서의 광유기 이방성 크기 측정 = Estimation of the anisotropy magnitude in amorphous A$$s_{40}$$< / TEX>G$$e_{10}$$< / TEX>$$S_{35}$$< / TEX>S$$e_{15}$$< / TEX> thin films by an interference method / 전진영, 박수호, 이현용, 정홍배
형태사항 p. 746-751: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 전기전자재료학회논문지. 한국전기전자재료학회. Vol.11 no.9(1998년 9월), p. 746-751 11:9<746 상세보기 ISSN 1226-7945
저자: 전진영, 광운대학교 전자재료공학과
저자: 박수호, 광운대학교 전자재료공학과
저자: 이현용, 광운대학교 신기술연구소
저자: 정홍배, 광운대학교 전자재료공학과 E-MAIL: hbchung@daisy.kwangwoon.ac.kr
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로