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소성공정에 의한 glass / silicon 계면특성변화에 관한 연구 = Study on interfaces properties of glass / sillicon by firing profiles
표제/저자사항 소성공정에 의한 glass / silicon 계면특성변화에 관한 연구 = Study on interfaces properties of glass / sillicon by firing profiles / 허창수, 김완태, 윤세욱
형태사항 p. 649-688: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 전기전자재료학회논문지. 한국전기전자재료학회. Vol.12 no.8(1999년 8월), p. 679-688 12:8<672 상세보기 ISSN 1226-7945
저자: 허창수, 인하대학교 전기공학과 E-MAIL: cs@dragon.inha.ac.kr
저자: 김완태, 인하대학교 전기공학과
저자: 윤세욱, 인하대학교 전기공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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