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자연 산화물 분산 촉진에 의한 실 시간 인 도핑 실리콘의 고품질 에피택셜 저온 성장 = High-quality epitaxial low temperature growth of in situ phosphorus-doped Si films by promoting dispersion of native oxides
표제/저자사항 자연 산화물 분산 촉진에 의한 실 시간 인 도핑 실리콘의 고품질 에피택셜 저온 성장 = High-quality epitaxial low temperature growth of in situ phosphorus-doped Si films by promoting dispersion of native oxides / 김홍승, 심규환, 이승윤, 이정용, 강진영
형태사항 p. 125-130: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 전기전자재료학회논문지. 한국전기전자재료학회. Vol.13 no.2(2000년 2월), p. 125-130 13:2<125 상세보기 ISSN 1226-7945
저자: 김홍승, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소 E-MAIL: hongseung@etri.re.kr
저자: 심규환, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소
저자: 이승윤, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소
저자: 이정용, 한국과학기술원 재료공학과
저자: 강진영, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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