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SLS 다결정 실리콘 TFT소자의 불량분석에 관한 연구 = (A)failure analysis of SLS polysilicon TFT devices for enhanced performances
표제/저자사항 SLS 다결정 실리콘 TFT소자의 불량분석에 관한 연구 = (A)failure analysis of SLS polysilicon TFT devices for enhanced performances / 오재영, 김동환, 박정호, 박원규
형태사항 p. 969-975: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 전기전자재료학회논문지. 한국전기전자재료학회. Vol.15 no.11(2002년 11월), p. 969-975 15:11<969 상세보기 ISSN 1226-7945
저자: 오재영, 고려대학교 금속공학과 E-MAIL: solar@korea.ac.kr
저자: 김동환, 고려대학교 금속공학과
저자: 박정호, 고려대학교 전기공학과
저자: 박원규, LG.philips-LCD
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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