기사
Via 이동을 통한 결함 민감 지역 감소를 위한 시뮬레이티드 어닐링 = Simulated annealing for reduction of defect sensitive area through via moving
표제/저자사항 Via 이동을 통한 결함 민감 지역 감소를 위한 시뮬레이티드 어닐링 = Simulated annealing for reduction of defect sensitive area through via moving / 이승환, 손소영
형태사항 p. 57-62: 삽도; 29 cm
주기사항 수록자료: 대한산업공학회지. 大韓産業工學會. 28권 1호(2002년 3월), p. 57-62 28:1<57 상세보기 ISSN 1225-0988
저자: 이승환, 연세대학교 컴퓨터과학·산업시스템공학과
저자: 손소영, 연세대학교 컴퓨터과학·산업시스템공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로