기사
전자현미경을 통한 아결정립 전위구조 분석 = TEM analysis for subgrain boundary structure
표제/저자사항 전자현미경을 통한 아결정립 전위구조 분석 = TEM analysis for subgrain boundary structure / 안성욱, 최주
형태사항 p. 440-440: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 분석과학. 한국기기분석학회. 2권 2호(1989년 12월), p. 440-440 2:2<440 상세보기
저자: 안성욱, 한국과학기술연구원
저자: 최주, 한국과학기술연구원
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로