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X-선 광전자 분광법 및 라더포드 후방산란법에 의한 개질된 고분자 시료의 표면분석 = Surface analysis of modified polymer samples by X-ray photoelectron spectroscopy and rutherford backscattering spectroscopy
표제/저자사항 X-선 광전자 분광법 및 라더포드 후방산란법에 의한 개질된 고분자 시료의 표면분석 = Surface analysis of modified polymer samples by X-ray photoelectron spectroscopy and rutherford backscattering spectroscopy / 박성우, 김동환, 김영만, 박병선, 한완수, 서배석
형태사항 p. 301-313: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 분석과학. 한국분석과학회. 7권 3호(1994년 9월), p. 301-313 7:3<301 상세보기
저자: 박성우, 국립과학수사연구소 화학분석과
저자: 김동환, 국립과학수사연구소 화학분석과
저자: 김영만, 한국과학기술연구원 특성분석센터
저자: 박병선, 전자통신연구소
저자: 한완수, 목원대학교 화학과
저자: 서배석, 카톨릭대학 화학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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