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TOF-SIMS를 이용한 표면분석 = Surface analysis by time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS)
표제/저자사항 TOF-SIMS를 이용한 표면분석 = Surface analysis by time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS) / 이연희, 한승희
형태사항 p. 87-104: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 분석과학. 한국분석과학회. 10권 5호(1997년 10월), p. 87-104 10:5<87 상세보기
저자: 이연희, 한국과학기술연구원 특성분석센터
저자: 한승희, 한국과학기술연구원 특성분석센터
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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