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양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 = PMOSFET degradation due to bidirectional hot carrier stress
표제/저자사항
양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 = PMOSFET degradation due to bidirectional hot carrier stress / 金容鐸, 金德起, 劉宗根, 朴鍾泰, 朴炳國, 李鍾德
형태사항
p. 59-66: 삽도; 26 cm
주기사항
수록자료: 電子工學會論文誌. A. 大韓電子工學會. 32卷 6號(1995년 6월), p. 59-66 32:6<59 상세보기 ISSN 1016-135X
저자: 김용탁, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 김덕기, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 유종근, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 박종태, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 박병국, 정회원, 서울대학교 전자공학과
저자: 이종덕, 정회원, 서울대학교 전자공학과
저자: 김용탁, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 김덕기, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 유종근, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 박종태, 정회원, 인천대학교 전자공학과
저자: 박병국, 정회원, 서울대학교 전자공학과
저자: 이종덕, 정회원, 서울대학교 전자공학과
출처
국립중앙도서관 바로가기
MARC 보기
001KMO201509136
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
