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SIS CV 해석에 의한 SOI 구조의 특성평가 = Characterization of SOI structure by SIS CV analysis
표제/저자사항 SIS CV 해석에 의한 SOI 구조의 특성평가 = Characterization of SOI structure by SIS CV analysis / 裵泳鎬, 權英規, 鄭旭珍, 金光一, 金氾晩, 李鍾玄
형태사항 p. 118-124: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌.A. 大韓電子工學會. 29卷 12號(1992년 12월), p. 118-124 29:12<118 상세보기 ISSN 1016-135X
저자: 배영호, 정회원, 산업과학기술연구소 반도체 연구분야
저자: 권영규, 정회원, 산업과학기술연구소 반도체 연구분야
저자: 정욱진, 정회원, 산업과학기술연구소 반도체 연구분야
저자: 김광일, 정회원, 산업과학기술연구소 반도체 연구분야
저자: 김범만, 정회원, 포항공과대학 전자전기공학과
저자: 이종현, 정회원, 경북대학교 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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