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디지탈 CMOS회로의 multi-level test를 위한 범용 test set 생성 = Universal test set generation for multi-level test of digital CMOS circuits
표제/저자사항 디지탈 CMOS회로의 multi-level test를 위한 범용 test set 생성 = Universal test set generation for multi-level test of digital CMOS circuits / 金東郁
형태사항 p. 63-75: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌.A. 大韓電子工學會. 30卷 2號(1993년 2월), p. 63-75 30:2<63 상세보기 ISSN 1016-135X
저자: 김동욱, 정회원. 광운대학교 전자재료공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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