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1 MeV argon 이온주입에의해 유기된 결합 및 회복기구의 XTEM 분석 = XTEM sudy of 1 MeV argon ion implantation induced defects in Si and their annealing behavior
표제/저자사항 1 MeV argon 이온주입에의해 유기된 결합 및 회복기구의 XTEM 분석 = XTEM sudy of 1 MeV argon ion implantation induced defects in Si and their annealing behavior / 金光一, 權英規, 裵泳鎬, 鄭旭珍, 金氾晩, 桑野博
형태사항 p. 42-48: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌.A. 大韓電子工學會. 30卷 8號(1993년 8월), p. 42-48 30:8<42 상세보기 ISSN 1016-135X
저자: 김광일, 정회원, 산업공학기술연구소, 전자전기 연구분야
저자: 권영규, 정회원, 산업공학기술연구소, 전자전기 연구분야
저자: 배영호, 정회원, 산업공학기술연구소, 전자전기 연구분야
저자: 정욱진, 정회원, 산업공학기술연구소, 전자전기 연구분야
저자: 김범만, 정회원, 포항공과대학, 전자전기공학과
저자: 구와노 히로시, 게이오기주쿠대학이공학부전기과
출처 국립중앙도서관 바로가기
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001KMO201509136
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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