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엑시머 레이저를 이용하여 결정화한 PECVD 및 LPCVD 비정질 실리콘 박막의 특성 분석 = Characterization of PECVD and LPCVD a-Si films crystallized by excimer laser
표제/저자사항 엑시머 레이저를 이용하여 결정화한 PECVD 및 LPCVD 비정질 실리콘 박막의 특성 분석 = Characterization of PECVD and LPCVD a-Si films crystallized by excimer laser / 崔弘錫, 李成圭, 張根浩, 全明鐵, 韓民九
형태사항 p. 172-177: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子工學會論文誌. A. 大韓電子工學會. 33卷 6號(1996년 6월), p. 172-177 33:6<172 상세보기 ISSN 1016-135X
저자: 최홍석, 정회원, 서울대학교 전기공학과
저자: 이성규, 정회원, 현대전자
저자: 장근호, 정회원, 현대전자
저자: 전명철, 정회원, LG전자
저자: 한민구, 정회원, 서울대학교 전기공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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