기사
조합논리회로에 있어서의 random testing의 확률적 해석 = Probabilistic analysis of random testing for combinational circuits
표제/저자사항 조합논리회로에 있어서의 random testing의 확률적 해석 = Probabilistic analysis of random testing for combinational circuits / 禹鍾鎬, 安光善
형태사항 p. 29-32: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子技術硏究誌. 慶北大學校 出版部. 4권(1983년), p. 29-32 4<29 상세보기 ISSN 1225-214X
저자: 우종호, 부산수산대학 전자통신공학과
저자: 안광선, 경북대학교 공과대학 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로