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조합논리회로에 대한 개선된 자동시험패턴 발생에 관한 연구 = Improved automatic test pattern generation for combinational circuits
표제/저자사항 조합논리회로에 대한 개선된 자동시험패턴 발생에 관한 연구 = Improved automatic test pattern generation for combinational circuits / 안광선, 이중하, 김대영
형태사항 p. 141-146: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 電子技術硏究誌. 慶北大學校 出版部. 9권(1988년), p. 141-146 9<141 상세보기 ISSN 1225-214X
저자: 안광선, 경북대학교 공과대학 전자계산기공학과
저자: 이중하, 경북대학교 공과대학 전자공학과
저자: 김대영, 경북대학교 공과대학 전자공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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