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An ERD-TOF system for the depth profiling of light elements = 경원소 적층 분석을 위한 탄성되튐-비행시간 측정시스템
표제/저자사항 An ERD-TOF system for the depth profiling of light elements = 경원소 적층 분석을 위한 탄성되튐-비행시간 측정시스템 / Y. S. Kim, H. J. Woo, J. K. Kim, D. K. Kim, H. W. Choi, W. Hong
형태사항 p. 25-32: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 韓國眞空學會誌. 韓國眞空學會. 5권 1호(1996년 3월), p. 25-32 5:1<25 상세보기 ISSN 1225-8822
저자: Y. S. Kim, Korea Institute of Geology, Mining and Materials
저자: H. J. Woo, Korea Institute of Geology, Mining and Materials
저자: J. K. Kim, Korea Institute of Geology, Mining and Materials
저자: D. K. Kim, Korea Institute of Geology, Mining and Materials
저자: H. W. Choi, Korea Institute of Geology, Mining and Materials
저자: W. Hong, Korea Institute of Geology, Mining and Materials
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담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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