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실리콘과 코발트 박막의 계면구조에서 발생하는 1 / f 잡음현상 연구 = Generation of 1 / f noise in interfacial structures between silicon substrate and cobalt thin film
표제/저자사항 실리콘과 코발트 박막의 계면구조에서 발생하는 1 / f 잡음현상 연구 = Generation of 1 / f noise in interfacial structures between silicon substrate and cobalt thin film / 조남인, 남형진, 박종윤
형태사항 p. 48-53: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 韓國眞空學會誌. 韓國眞空學會. 5권 1호(1996년 3월), p. 48-53 5:1<48 상세보기 ISSN 1225-8822
저자: 조남인, 선문대학교 전자공학과
저자: 남형진, 선문대학교 전자공학과
저자: 박종윤, 성균관대학교 물리학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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