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실리콘 트렌치 식각 특성에 미치는 He-O₂, SiF₄첨가 가스의 영향 = Characteristics of silicon etching related to He-O₂, SiF₄for trench formation
표제/저자사항 실리콘 트렌치 식각 특성에 미치는 He-O₂, SiF₄첨가 가스의 영향 = Characteristics of silicon etching related to He-O₂, SiF₄for trench formation / 김상기, 이주욱, 김종대, 구진근, 남기수
형태사항 p. 364-371: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 韓國眞空學會誌. 韓國眞空學會. 6권 4호(1997년 11월), p. 364-371 6:4<364 상세보기 ISSN 1225-8822
저자: 김상기, 한국전자통신연구원 반도체연구단
저자: 이주욱, 한국전자통신연구원 반도체연구단
저자: 김종대, 한국전자통신연구원 반도체연구단
저자: 구진근, 한국전자통신연구원 반도체연구단
저자: 남기수, 한국전자통신연구원 반도체연구단
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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