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원자현미경을 이용한 자구분석 = Magnetic domain characterization using scanning probe microscope
표제/저자사항 원자현미경을 이용한 자구분석 = Magnetic domain characterization using scanning probe microscope / 宋旿聲
형태사항 p. 297-308: 삽도; 26 cm
주기사항 수록자료: 論文集-서울市立大學校. 서울市立大學校. 第32輯(1998), p. 297-308 32<297 상세보기
저자: 송오성, 서울시립대학교 공과대학 재료공학과 조교수
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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