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리플로 공정 후에 형성된 In과 Au / Ni / Ti 다층 박막의 계면 구조의 TEM 분석 = (The)TEM characterization of the interfacial microstructure between In solder and Au / Ni / Ti thin films during reflow process
표제/저자사항 리플로 공정 후에 형성된 In과 Au / Ni / Ti 다층 박막의 계면 구조의 TEM 분석 = (The)TEM characterization of the interfacial microstructure between In solder and Au / Ni / Ti thin films during reflow process / 조원구, 김영호, 김창경
형태사항 p. 503-512; 26 cm
주기사항 수록자료: 한국표면공학회지. 한국표면공학회. 32권 4호(1999년 8월), p. 503-512 32:4<503 상세보기 ISSN 1225-8024
저자: 조원구, 한양대학교 공과대학 재료공학부
저자: 김영호, 한양대학교 공과대학 재료공학부
저자: 김창경, 한양대학교 공과대학 재료공학부
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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