기사
C54-TiSi₂ / SiO₂ 의 열적 불안정성에 미치는 계면 구조의 영향 = Effect of interfacial structure on thermal instability of C54-TiSi₂ on SiO₂
표제/저자사항 C54-TiSi₂ / SiO₂ 의 열적 불안정성에 미치는 계면 구조의 영향 = Effect of interfacial structure on thermal instability of C54-TiSi₂ on SiO₂ / 徐東祐, 金泓承, 白圭夏, 康鎭榮
형태사항 p. 1130-1133; 30 cm
주기사항 수록자료: 대한금속ㆍ재료학회지. 대한금속.재료학회. 38권 8호(2000년 8월), p. 1130-1133 38:8<1130 상세보기 ISSN 0253-3847
저자: 서동우, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소 화합물반도체부
저자: 김홍승, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소 화합물반도체부
저자: 백규하, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소 화합물반도체부
저자: 강진영, 한국전자통신연구원 회로소자기술연구소 화합물반도체부
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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