기사
LSSD방법을 이용한 CMOS 논리회로의 testability에 관한 연구 = Study on testability for CMOS logic circuits using LSSD method
표제/저자사항 LSSD방법을 이용한 CMOS 논리회로의 testability에 관한 연구 = Study on testability for CMOS logic circuits using LSSD method / 김동욱
형태사항 p. 27-39; 26 cm
주기사항 수록자료: 論文集-光云大學校. 純粹應用科學 編. 光云大學校. 22집(1993년), p. 27-39 22<27 상세보기
저자: 김동욱, 광운대학교 공과대학 전자재료 공학과 조교수
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
위로