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후막 칩 저항기의 가속수명시험 = Accelerated life testing of a thick film chip resistor
표제/저자사항
후막 칩 저항기의 가속수명시험 = Accelerated life testing of a thick film chip resistor / 천성일, 송병석, 이관훈, 김명수
형태사항
p. 93-102; 26 cm
주기사항
수록자료: 大韓設備管理學會誌. 대한설비관리학회. 第4卷 3號(1999년 9월), p. 93-102 4:3<93 상세보기 ISSN 1598-2475
저자: 천성일, 전자부품연구원(KETI)
저자: 송병석, 전자부품연구원(KETI)
저자: 이관훈, 전자부품연구원(KETI)
저자: 김명수, 수원대학교 산업정보공학과
저자: 천성일, 전자부품연구원(KETI)
저자: 송병석, 전자부품연구원(KETI)
저자: 이관훈, 전자부품연구원(KETI)
저자: 김명수, 수원대학교 산업정보공학과
출처
국립중앙도서관 바로가기
MARC 보기
001KMO201509136
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
