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논리함수처리에 의한 부분스캔순차회로의 테스트생성 = Test generation for partial scanned sequential circuits based on boolean function manipulation
표제/저자사항 논리함수처리에 의한 부분스캔순차회로의 테스트생성 = Test generation for partial scanned sequential circuits based on boolean function manipulation / 최호용
형태사항 p. 572-580; 26 cm
주기사항 수록자료: 정보처리논문지. 한국정보처리학회. 제3권 3호(1996년 5월), p. 572-580 3:3<572 상세보기 ISSN 1226-9190
저자: 최호용, 정회원 : 부산공업대학교 전자공학과 부교수
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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