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불변 모멘트를 이용한 반도체 IC 리드 불량 검사 알고리즘 = (The)inspection algorithm using invariant moment for the detection of lead faults of semiconductor IC
표제/저자사항
불변 모멘트를 이용한 반도체 IC 리드 불량 검사 알고리즘 = (The)inspection algorithm using invariant moment for the detection of lead faults of semiconductor IC / 이길휘, 김준식
형태사항
p. 2737-2749; 26 cm
주기사항
수록자료: 정보처리논문지. 한국정보처리학회. 제5권 10호(1998년 10월), p. 2737-2749 5:10<2737 상세보기 ISSN 1226-9190
저자: 이길휘, 정회원 : (주)기아정보시스템 연구원
저자: 김준식, 정회원 : 호서대학교 전기전자공학부 교수
저자: 이길휘, 정회원 : (주)기아정보시스템 연구원
저자: 김준식, 정회원 : 호서대학교 전기전자공학부 교수
출처
국립중앙도서관 바로가기
MARC 보기
001KMO201509136
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24500▼a생명이란 무엇인가? :▼b생명·환경·문화 8월 대 토론회 /▼d주최: 토지문화재단 ;▼e주관: 한국생명윤리학회,▼e토지문화관
260 ▼a원주 :▼b토지문화재단,▼c2001
300 ▼a81 p. ;▼c30 cm
500 ▼a일시 및 장소: 2001년 8월 18일(토) ~ 19일(일), 토지문화관
504 ▼a참고문헌 수록
650 8▼a생명 과학[生命科學]
650 8▼a생명론[生命論]
710 ▼a토지문화재단
710 ▼a한국생명윤리학회
710 ▼a토지문화관
9501 ▼a가격불명
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
