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The implementation of the built-in self-test for embedded 16M SDRAM testing = 내장된 16M SDRAM 테스트에 사용된 BIST 회로 구현
표제/저자사항 The implementation of the built-in self-test for embedded 16M SDRAM testing = 내장된 16M SDRAM 테스트에 사용된 BIST 회로 구현 / Sang Bong Park
형태사항 p. 51-62; 26 cm
주기사항 수록자료: 산업기술연구논문집-세명대학교 산업기술연구소. 세명대학교 산업기술연구소. 6집(1999), p. 51-62 6<51 상세보기
저자: Sang Bong Park, Dept. of Information & Communications Science Major, Semyung Univ.
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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