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고집적소자에 응용되는 텅스텐-보론-질소 화합물 박막의 열적인 안정성 = Thermally stable diffusion barrier of W-B-N thin films for high memory devices
표제/저자사항 고집적소자에 응용되는 텅스텐-보론-질소 화합물 박막의 열적인 안정성 = Thermally stable diffusion barrier of W-B-N thin films for high memory devices / 이창우, 고석중, Q. Chen
형태사항 p. 61-68; 26 cm
주기사항 수록자료: (基礎科學硏究所)論文集-國民大學校. 國民大學校出版部. 19輯 1卷(2000년), p. 61-68 19:1<61 상세보기 ISSN 1226-0002
저자: 이창우, 국민대학교 자연과학대학 전자물리학전공 부교수 E-MAIL: cwlee@phys.kookmin.ac.kr
저자: Q. Chen, School of Chemistry, University of St. Andrews, North Haugh E-MAIL: qc@st-andrews.ac.uk
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담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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