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Pt / SBT / Si, Pt / SBT / Pt 강유전체 게이트 구조에서 수소 열화 현상 및 Ir 게이트 전극에 의한 열화 방지 방법 = Hydrogen degradation of Pt / SBT / Si, Pt / SBT / Pt ferroelectric gate structures and degradation resistance of Ir gate electrode
표제/저자사항 Pt / SBT / Si, Pt / SBT / Pt 강유전체 게이트 구조에서 수소 열화 현상 및 Ir 게이트 전극에 의한 열화 방지 방법 = Hydrogen degradation of Pt / SBT / Si, Pt / SBT / Pt ferroelectric gate structures and degradation resistance of Ir gate electrode / 박전웅, 김익수, 김성일, 김용태, 성만영
형태사항 p. 49-54; 26 cm
주기사항 수록자료: 마이크로전자 및 패키징학회지. 한국마이크로전자 및 패키징학회. 10권 2호(2003년 6월), p. 49-54 10:2<49 상세보기 ISSN 1226-9360
저자: 박전웅, 고려대학교 전기공학과 반도체 & CAD 연구실
저자: 김익수, 한국과학기술연구원 반도체소자연구실
저자: 김성일, 한국과학기술연구원 반도체소자연구실
저자: 김용태, 한국과학기술연구원 반도체소자연구실
저자: 성만영, 고려대학교 전기공학과 반도체 & CAD 연구실
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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