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플립칩 본딩된 Sn-3.5Ag-0.5Cu 솔더범프의 electromigration 거동 = Electromigration behavior of the flip-chip bonded Sn-3.5Ag-0.5Cu solder bumps
표제/저자사항 플립칩 본딩된 Sn-3.5Ag-0.5Cu 솔더범프의 electromigration 거동 = Electromigration behavior of the flip-chip bonded Sn-3.5Ag-0.5Cu solder bumps / 최재훈, 전성우, 원혜진, 정부양, 오태성
형태사항 p. 43-48; 26 cm
주기사항 수록자료: 마이크로전자 및 패키징학회지. 한국마이크로전자 및 패키징학회. 11권 4호(2004년 12월), p. 43-48 11:4<43 상세보기 ISSN 1226-9360
저자: 최재훈, 홍익대학교 신소재공학과
저자: 전성우, 홍익대학교 신소재공학과
저자: 원혜진, 홍익대학교 신소재공학과
저자: 정부양, 홍익대학교 신소재공학과
저자: 오태성, 홍익대학교 신소재공학과 E-MAIL: ohts@hongik.ac.kr
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담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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