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소결온도에 따른 BSCT 후막의 구조적, 유전적 특성 = Structural and dielectric properties of BSCT thick films with various sintering temperature
표제/저자사항 소결온도에 따른 BSCT 후막의 구조적, 유전적 특성 = Structural and dielectric properties of BSCT thick films with various sintering temperature / 이성갑, 이영희, 이상헌
형태사항 p. 304-310; 26 cm
주기사항 수록자료: 전기전자재료학회 논문지. 한국전기전자재료학회. Vol.16 no.4(2003년 4월), p. 304-310 16:4<304 상세보기 ISSN 1226-7945
저자: 이성갑, 서남대학교 전기전자멀티미디어공학부 E-MAIL: lsgap@tiger.seonam.ac.kr
저자: 이영희, 광운대학교 반도체 및 신소재공학과
저자: 이상헌, 선문대학교 전자정보통신공학부
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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