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반도체 소자의 DC 특성 검사용 회로설계에 관한 연구 = (A)study on the circuit design for DC characteristic inspection of semiconductor devices
표제/저자사항 반도체 소자의 DC 특성 검사용 회로설계에 관한 연구 = (A)study on the circuit design for DC characteristic inspection of semiconductor devices / 김준식, 이상신, 전병준
형태사항 p. 105-114; 26 cm
주기사항 수록자료: 조명·전기설비학회논문지. 韓國照明·電氣設備學會. 18권 1호(2004년 1월), p. 105-114 18:1<105 상세보기 ISSN 1229-4691
저자: 김준식, 호서대학교 전기정보통신공학부 교수 E-MAIL: joonskim@office.hoseo.ac.kr
저자: 이상신, 호서대학교 대학원 전자공학과 석사과정
저자: 전병준, 호서대학교 대학원 전자공학과 석사과정
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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