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Spectroscopic ellipsometry를 이용한 표면 및 박막의 분석 = Analysis of surface and thin films using spectroscopic ellipsometry
표제/저자사항 Spectroscopic ellipsometry를 이용한 표면 및 박막의 분석 = Analysis of surface and thin films using spectroscopic ellipsometry / 김상열
형태사항 p. 73-86 ; 29 cm
주기사항 수록자료: 한국광학회지. 한국광학회. 1권 1호(1990년 3월), p. 73-86 1:1<73 상세보기 ISSN 1225-6285
저자: 김상열, 아주대학교 이과대학 물리학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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