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회절무늬를 이용한 미세물체의 특성 측정 = Characterization of microscale objects based on the diffraction pattern analysis
표제/저자사항 회절무늬를 이용한 미세물체의 특성 측정 = Characterization of microscale objects based on the diffraction pattern analysis / 강기호, 전형욱, 손정영, 오명환
형태사항 p. 1-6 ; 29 cm
주기사항 수록자료: 한국광학회지. 한국광학회. 2권 1호(1991년 3월), p. 1-6 2:1<1 상세보기 ISSN 1225-6285
저자: 강기호, 한국과학기술연구원 응용전자연구실
저자: 전형욱, 한국과학기술연구원 응용전자연구실
저자: 손정영, 한국과학기술연구원 응용전자연구실
저자: 오명환, 한국과학기술연구원 응용물리·전자공학부
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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