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RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법 = (A)non-scan design-for-test technique for RTL controllers / datapaths based on testability analysis
표제/저자사항 RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법 = (A)non-scan design-for-test technique for RTL controllers / datapaths based on testability analysis / 김성일, 양선웅, 김문준, 박재흥, 김석윤, 장훈
형태사항 p. 99-106; 26 cm
주기사항 수록자료: 정보과학회논문지. 시스템 및 이론. 한국정보과학회. 30권 1/2호(2003년 2월), p. 99-106 30:2<99 상세보기 ISSN 1229-683X
저자: 김성일, 비회원, 숭실대학교 컴퓨터학부 E-MAIL: kimsi72@samsung.co.kr
저자: 양선웅, 비회원, 숭실대학교 컴퓨터학부 E-MAIL: swyang@watt.ssu.ac.kr
저자: 김문준, 비회원, 숭실대학교 컴퓨터학부 E-MAIL: mjkim@watt.ssu.ac.kr
저자: 박재흥, 비회원, 숭실대학교 컴퓨터학부 E-MAIL: jhpark@watt.ssu.ac.kr
저자: 김석윤, 정회원, 숭실대학교 컴퓨터학부 교수 E-MAIL: ksy@computing.ssu.ac.kr
저자: 장훈, 비회원, 숭실대학교 컴퓨터학부 교수 E-MAIL: hoon@computing.ssu.ac.kr
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담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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