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DRAM 커패시터용 Ta₂O₅ 박막의 전기적 특성에 미치는 전극의존성 = (The)effects of electrode materials on the electrical properties of Ta₂O₅ thin film for DRAM capacitor
표제/저자사항 DRAM 커패시터용 Ta₂O₅ 박막의 전기적 특성에 미치는 전극의존성 = (The)effects of electrode materials on the electrical properties of Ta₂O₅ thin film for DRAM capacitor / 김영욱, 권기원, 하정민, 강창석, 선용빈, 김영남
형태사항 p. 229-235 ; 30 cm
주기사항 수록자료: 한국재료학회지. 韓國材料學會. 1권 4호(1991년 12월), p. 229-235 1:4<229 상세보기 ISSN 1225-0562
저자: 김영욱, 삼성전자(주) 반도체부문 기반기술센타
저자: 권기원, 삼성전자(주) 반도체부문 기반기술센타
저자: 하정민, 삼성전자(주) 반도체부문 기반기술센타
저자: 강창석, 삼성전자(주) 반도체부문 기반기술센타
저자: 선용빈, 삼성전자(주) 반도체부문 기반기술센타
저자: 김영남, 삼성전자(주) 반도체부문 기반기술센타
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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