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PLD법에 의해 제조된 ZnO 박막의 두께 변화에 따른 특성 연구 = Thickness dependence of ZnO thin films grown on sapphire by PLD
표제/저자사항 PLD법에 의해 제조된 ZnO 박막의 두께 변화에 따른 특성 연구 = Thickness dependence of ZnO thin films grown on sapphire by PLD / 윤욱희, 명재민, 이동희, 배상혁, 윤일구, 이상렬
형태사항 p. 319-323 ; 30 cm
주기사항 수록자료: 한국재료학회지. 韓國材料學會. 11권 4호(2001년 4월), p. 319-323 11:4<319 상세보기 ISSN 1225-0562
저자: 윤욱희, 연세대학교 금속공학과
저자: 명재민, 연세대학교 금속공학과
저자: 이동희, 연세대학교 금속공학과
저자: 배상혁, 연세대학교 전기공학과
저자: 윤일구, 연세대학교 전기공학과
저자: 이상렬, 연세대학교 전기공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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