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열처리 온도에 따른 니켈실리사이드 실리콘 기판쌍의 직접접합 = Direct bonding of Si(100) / NiSi / Si(100) wafer pairs using nickel silicides with silicidation temperature
표제/저자사항 열처리 온도에 따른 니켈실리사이드 실리콘 기판쌍의 직접접합 = Direct bonding of Si(100) / NiSi / Si(100) wafer pairs using nickel silicides with silicidation temperature / 송오성, 안영숙, 이영민, 양철웅
형태사항 p. 556-561 ; 30 cm
주기사항 수록자료: 한국재료학회지. 韓國材料學會. 11권 7호(2001년 7월), p. 556-561 11:7<556 상세보기 ISSN 1225-0562
저자: 송오성, 서울시립대학교 재료공학과
저자: 안영숙, 서울시립대학교 재료공학과
저자: 이영민, 서울시립대학교 재료공학과
저자: 양철웅, 성균관대학교 재료공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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