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SiH₂Cl₂와 O₃을 이용한 원자층 증착법에 의해 제조된 실리콘 산화막의 특성 = Characteristics of silicon oxide thin films prepared by atomic layer deposition using alternating exposures of SiH₂Cl₂ and O₃
표제/저자사항 SiH₂Cl₂와 O₃을 이용한 원자층 증착법에 의해 제조된 실리콘 산화막의 특성 = Characteristics of silicon oxide thin films prepared by atomic layer deposition using alternating exposures of SiH₂Cl₂ and O₃ / 이원준, 이주현, 한창희, 김운중, 이연승, 나사균
형태사항 p. 90-93 ; 30 cm
주기사항 수록자료: 한국재료학회지. 韓國材料學會. 14권 2호(2004년 2월), p. 90-93 14:2<90 상세보기 ISSN 1225-0562
저자: 이원준, 세종대학교 신소재공학과 E-MAIL: wjlee@sejong.ac.kr
저자: 이주현, 한국과학기술원 재료공학과
저자: 한창희, 한밭대학교 재료공학과
저자: 김운중, 세종대학교 신소재공학과
저자: 이연승, 한밭대학교 정보통신컴퓨터공학부
저자: 나사균, 한밭대학교 재료공학과
출처 국립중앙도서관 바로가기
담당부서 : 국가서지과 (02-590-6339)
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